话题: 泰克科技半导体MEMS微机电系统
半导体材料与器件科学云讲堂
半导体材料已发展到第三代,每一次半导体材料的突破带来的是一系列技术变革,也使尖端的新型器件研发面世成为可能。新应用标准,新材料特性,新设计和测试方式,新生产工艺流程,新半导体流片技术对测试设备和技术带来持续挑战。
泰克作为专业的测试平台,将带您从测试的角度,切分出六大类测试流程,去剖析并解决半导体从设计到生产过程中带来的一系列新问题。
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第2季第三期——8月14日|微机电系统MEMS测试概述
MEMS(微机电系统)是一种基于CMOS工艺的集成技术。它将传感器/微处理器/信号处理与控制集于一体,有效缩小了系统的体积,是一种先进的加工技术。
泰克公司在微机电系统的电性能测科研测试领域中拥有很高的市场占有率,本直播将介绍如何应对MEMS电性能测试的挑战,如何选择适当的测试仪器,MEMS中IV/CV 特性测试需要注意的事项。
直播亮点预告
1. MEMS及纳米电子器件的特性与测试注意细节
- MEMS的特性
- MEMS电学性能测试
- MEMS电性能测试细节
2. 泰克MEMS器件的电测试
- MEMS及电子器件电学测试面临的挑战
- MEMS及电子器件电学测试仪器选型
- MEMS器件综合测试方案
讲师介绍
林彩霞
泰克高级应用工程师 半导体领域测试专家
毕业于华北电力大学,现工作于泰克科技(中国)有限公司,主要负责华东区域的技术支持工作。多年以来一直在从事测试测量相关工作,积累了丰富的测试经验。目前主攻方向包括低电平信号测试、射频/射频元器件测试以及宽带信号产生与分析、信号完整性测试、自动化测试系统等。
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