将不同的分析表征方法集成到一种仪器设备中，实现同时获取材料或样品的多种信息，对于材料分析具有非常重要意义，也是近些年表征分析设备的重要发展趋势。特别是，在纳米尺度上对目标样品进行机械、电学、磁学、化学和晶体学性质的高度局域化探测，成为了微观和纳米世界中探究各种新现象的重要手段。

在这次网络研讨会上，来自GETec Microscopy公司的Chris Schwalb博士，将向大家展示一种独特的多功能AFM技术——AFSEM，它是一种与扫描电子显微镜（SEM）或双束系统进行集成并联用的AFM表征方案。其独特的设计理念以及工作原理，使得AFSEM可以轻松的集成到SEM腔体中，并与SEM同时进行观测，实现诸多互补表征技术的联用。它的使用并不会妨碍SEM中EBSD、EDX等表征手段的正常进行。科学家在进行交互操作的同时，便捷地对目标样品进行成像，探测其化学或晶体学信息，并对样品的三维形貌、物相信息、力学、电学、磁学和热学等性质进行测量。此外，用户友好的设计理念使得AFSEM可以与其他SEM或双束系统的常用插件和配件联用，如拉伸台、纳米压痕仪或纳米操纵器等。

作为材料表征中的经典案例，在此次报告Chris
H. Schwalb博士结合多个动态视频以及来自著名实验室和高校的研究结果，将向大家展示SEM与原位AFSEM联用的技术优势和特点，并介绍其在纳米结构电学与磁学表征中的最新前沿应用。