话题: 泰克科技半导体参数测试仪
半导体材料与器件科学云讲堂
半导体材料已发展到第三代,每一次半导体材料的突破带来的是一系列技术变革,也使尖端的新型器件研发面世成为可能。新应用标准,新材料特性,新设计和测试方式,新生产工艺流程,新半导体流片技术对测试设备和技术带来持续挑战。
泰克作为专业的测试平台,将带您从测试的角度,切分出六大类测试流程,去剖析并解决半导体从设计到生产过程中带来的一系列新问题。
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第五期——7月3日|番外篇一:测试技巧—半导体参数测试仪使用技巧及案例集锦
泰克公司的keithley 4200A是一台集成化的多功能的电学测试系统。常用于微电子,物理,化学,甚至生物等学科的电学测试。可以测试的参数曲线包括直流IV(I-t/V-t)/CV/pulse IV及基于这些曲线的其他特性参数的测试。
直播亮点预告
1. 如何保证测试准确性
- 关于量程的选择
- 关于测试速度的选择
2. 测试经典案例分享
- 四线法测小电阻
- Pulse IV模式
3. 如何快速进行故障检测
- 如何进行设备自检
- 如何排查输出不准确问题
讲师介绍
王瑞恒
泰克高级应用工程师 半导体测试专家
2016年毕业于北京师范大学凝聚态物理专业,硕士研究生学历。曾从事半导体器件表征、半导体器件可靠性测试,低漏电矩阵开关研发等工作。目前在泰克科技(中国)有限公司设计与制造测试仪器产品部担任应用工程师,主要负责万用表,精密源表,半导体参数分析仪,功率器件参数测试仪等产品的应用和研究,在直流信号的测试,半导体器件的测试等方面具有丰富的经验。
第2季直播预告
7月17日|宽禁带半导体(GaN/SiC)材料及器件测试
立即预约直播:http://live.vhall.com/956535429
7月31日|功率IGBT器件测试系统及自动化简介
立即预约直播:http://live.vhall.com/727290258
- 微机电系统MEMS测试概述
- MOSFET的准静态CV/超低频CV测试
- 半导体器件可靠性HCI/NBTI测试
番外篇二:测试技巧—快速上手自动化半导体参数测试系统
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