话题: 泰克科技宽禁带半导体测试
半导体材料与器件科学云讲堂
半导体材料已发展到第三代,每一次半导体材料的突破带来的是一系列技术变革,也使尖端的新型器件研发面世成为可能。新应用标准,新材料特性,新设计和测试方式,新生产工艺流程,新半导体流片技术对测试设备和技术带来持续挑战。
泰克作为专业的测试平台,将带您从测试的角度,切分出六大类测试流程,去剖析并解决半导体从设计到生产过程中带来的一系列新问题。
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第2季第一期——7月17日|宽禁带半导体(GaN/SiC)材料及器件测试宽禁带材料是指禁带宽度大于2.3eV的半导体材料,以Ⅲ-Ⅴ族材料,SiC等最为常见。随着电子电力的发展,功率器件的使用越来越多,SiC,GaN等被广泛应用于射频,超高压等领域,为适应特高压输电,电动汽车充电桩等超高压应用,可以承受更高电压的超宽禁带半导体,如金刚石,氧化镓等的研究也在逐渐深入。宽禁带材料一直是研究方向的热点。在半导体材料的研究中,电阻率,载流子密度和迁移率是测试的关键参数。
对第三代半导体的研究和测试主要分为三个阶段,本次直播将为大家介绍各阶段亮点及所面临的测试挑战。
直播亮点预告
1. 材料级-材料阻抗分析
- 低电平测量挑战
- 材料自热效应对测试的挑战
- 半导体材料的霍尔效应
2. 器件级特性-静态参数分析
- 高压3kV,高流100A高精度源表
- 从Lab到Fab的以源表为硬件构成的完整静态参数测试系统
- 超高精度电流输出精度40fA,电流测试精度10fA,电压测试精度80µV
3. 应用层测试-动态参数分析
- 示波器+双脉冲信号源+光隔离探头组成的双脉冲测量方案
- 器件动态参数的一键式配置和结果显示
讲师介绍
朱杰昕
泰克现场应用工程师
主要负责泰克华东地区通用信号测试仪器,包括,示波器、源表、任意波形发生器、数采等产品,加入泰克以来,为广大的研究院、知名企业、院校研究类学科专业提供了专业的技术服务,对电源完整性、小信号测试、前沿科研材料电学特性测试及应用有着深入的研究和深刻的理解。
第2季直播预告
7月31日|功率IGBT器件测试系统及自动化简介
立即预约直播:http://live.vhall.com/727290258
8月14日|微机电系统MEMS测试概述
立即预约直播:http://live.vhall.com/640786513